半导体测试行业测试插座导板的微加工(钻孔、铣削)
为了适应半导体的迅猛发展,微加工工艺需兼具高度适应性,同时又不影响速度和精度。 测试插座导板微加工应用概述 测试插座导板的微加工代表着半导体测试领域顶尖科技精度的极致。该应用程序采用先进技术,无缝地应对尖端半导体架构的复杂几何形状。在纳米级
在电子行业,尤其是测试设备领域,高精度至关重要。为了兼顾接触力、高载流能力以及在晶圆探针超细间距优化方面的需求,对垂直和 MEMS 探针进行高质量的表面处理与精确的加工几何形状显得尤为重要。我们深刻理解当前和未来测试设备市场对这一系列要求的迫切需求。
先进的探针卡由数千个垂直探针或MEMS探针组成,用于在晶圆级测试存储器(DRAM、NAND)和非存储器(SoC)微处理器。
MEMS探针是微机电系统探针的缩写,是结合了微电子和机械组件的微型设备。它们被用于在微观层面上测量、感知周围环境或与周围环境进行交互。MEMS探针广泛应用于各个领域,包括电子测试、生物医学传感和纳米技术研究。
高质量垂直和MEMS探针的微切割是实现卓越的质量测试可靠性和满足广泛测试要求的技术可扩展性的基础。
我们成功实现了对铜、钯、铱等多种材料的高精度垂直和MEMS探针微切割。对于厚度在25-100 µm之间的箔片,我们能够实现切割宽度低至20 µm,甚至更小,而尺寸精度能够保持在 < ± 2 µm。
由于能够生产任意长度的探针,我们在制作各种形状和几何形状时具有显著的灵活性,展示了高科技加工方法的适应性和精度。
如果您目前有垂直探针或MEMS探针微加工项目,是否想了解更多关于我们如何共同实现这目标吗?
飞秒激光技术非常适合所有需要最高精度、不影响质量和生产率的行业。
微型化的元件广泛应用于各种设备中。在电子和医疗技术等多个领域,几乎无法想象没有极小的零部件。因此,为了生产和制造这些微小的零部件,需要采用新的方法。通过飞秒激光微加工,可以实现多种工艺,如钻孔、切割和车削。这种技术与几乎所有传统刀具难以加工的材料兼容。
每个飞秒激光脉冲撞击工件时,少量材料会立即蒸发。材料的去除受到精准控制,不会造成损坏、毛刺,也不会对材料完整性产生任何负面影响。
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为了适应半导体的迅猛发展,微加工工艺需兼具高度适应性,同时又不影响速度和精度。 测试插座导板微加工应用概述 测试插座导板的微加工代表着半导体测试领域顶尖科技精度的极致。该应用程序采用先进技术,无缝地应对尖端半导体架构的复杂几何形状。在纳米级
半导体晶圆测试领域的探针卡导板面临确保极高精度与稳定性的严苛挑战。随着集成电路日益小型化和复杂化,导板必须平稳无误地将每个探针引导到晶圆上的精确测试点。任何细微瑕疵都可能削弱测试的可靠性,甚至对被测单元(DUT)造成损害。随着晶圆上微芯片数
在半导体测试领域,接触针(包括线、棒和管)需兼具精准度与耐用性,以确保电气连接的一致性,承受快速测试周期并保护敏感的半导体器件。任何细微差异都至关重要,因为轻微偏差也会影响测试精度或导致损坏。 接触针(线材、棒材和管材)车削应用概述 半导体